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技术需求及信息库

基本信息

  • R-0091 高精高效芯片显微成像以及缺陷识别设备的研发

  • 其它

  • 芯成果

  • 范老师

  • fanxiaoxiao@nicu.cn

技术简介

  • 需求概况:

          开发能够在线自动分析晶粒缺陷的一体化仪器,实现国产化替代。

    研究高精高效芯片显微成像技术,解决高精度光路装配及光轴调教、定量化同轴照明中光斑均匀度与亮度平衡问题;实现成像清晰度高一致性的高均匀高亮度物  方视场同轴照明及光轴校准;研究多图案晶粒小微缺陷识别技术,解决未知图案自动识别及分割、弱纹理图案定位匹配、微小及低对比度物体显著性检测问题。


    主要技术指标:

        1、在移动速度不低于180毫米/秒下,显微成像分辨力优 于2微米、成像效率超400平方毫米/秒,支持高速移动下的微米级主 动对焦

        2、针对2微米以上缺陷的检出率大于99.9%,检测错误率小于5%

        3、支持不同晶粒半自动适配部署,单类产品部署耗时小于12小时



需求文件

申请文件

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