基本信息

• 成果名称：

  S-0011芯片表面微波磁场高分辨测量技术

• 成果分类：

  芯片测试

• 信息来源：

  芯成果

• 联系人：

  范老师

• 联系方式：

  fanxiaoxiao@nicu.cn

技术简介

• 成果概况：

        重点描述该成果可解决的问题、先进性及主要技术指标、配套条件；

        1、可解决的问题、

        该成果面向芯片表面微波磁场测量要求，提出扫描式和成像式两种测量新方

  法，研制了锥形光纤亚微米级金刚石NV 色心探头和芯片表面微波磁场高分辨高

  速成像系统，实现了芯片表面微波磁场高分辨测量，对提高芯片设计和测试能力

  具有重要意义。尤其锥形光纤亚微米级金刚石NV 色心探头属于国 际首创，获得

  院士专家的高度评价。

         2、主要技术指标

       （1)光纤金刚石量子探头技术

       （2)微弱信号处理技术

       （3)宽频带量子能级调谐技术

   应用范围及应用案例：芯片测试、电磁兼容测试、芯片失效分析、量子计量、科研级需求包括温度和磁场的高分辨 精密测量。

  
  

• 产权编号：

  ZL202010549514.8;ZL202010549513.3;ZL201810915727.0; ZL201811172386.9;ZL201910063622.1

• 产权类型：

  /

• 成熟度：

  小试阶段

• 合作意向：

  /

需求文件