基本信息

• 需求名称：

  R-0037 测试仪器技术改造

• 需求分类：

  其他

• 信息来源：

  芯成果

• 联系人：

  芯成果

• 联系方式：

  fanxiaoxiao@nicu.cn

技术简介

• 需求概况：

  重点描述企业需要解决的问题及主要技术指标、配套条件：

   一、需解决的主要技术问题：

  (1) 增加同测数，提高测试效率；
  

  (2) 设计支持200mhz频率测试的通用针卡PCB公板；

  (3) 改进测试硬件，提高低温测试稳定性和效率；

  主要技术指标：

  (1) EVA100测试机台具有256 IO资源，通过测试机二合一的升级，目前可以支持需求512 IO资源的测试。现需求进一步四合一升级，支持1024 IO资源的试提高测试性能。

  (2) 设计支持200mhz频率测试的通用针卡PCB公板，兼容更多产品；

  (3) 提高低温测试稳定性和效率；

  二、需求应用范围及应用场景：

  越来越多的产品提出了低温测试的需求，所以需要架设一个稳定和易操作的低温环境，进行批量低温测试生产。

  但由于测试硬件是由测试机+探针台+探针卡三者组合而成，每次独立的setup有造成密封性异常的风险，出现密封异常会引起测试硬件局部结霜，进而导致芯片DC测试的不稳定。当前正在设计额外的干燥器件，在干燥密封的环境上，额外提供干燥的气体，包裹测试硬件，进一步降低水汽含量，降低结霜风险，提高测试稳定性。

  
  

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