基本信息

• 成果名称：

  S-0001集成电路芯片电参数和老化测试

• 成果分类：

  其他

• 信息来源：

  国家集成电路芯火平台（南京）

• 联系人：

  范老师

• 联系方式：

  fanxiaoxiao@nicu.cn

技术简介

• 成果概况：

        依据国、军标，依托国产主流测试机，开发了190多个品种集成电路芯片测试适配器和测试程序，包括模拟电路芯片和数字电路芯片的测试（Final test），主要是电参数和老化测试。与第三方测试机构有过合作检验成果。拥有合作专利和测试软件著作权登记。

  
  

  部分芯片测试适配器(图一）

  
  

  

  （图一）

  
  

  部分芯片测试老化板（图二）

  
  

  

  （图二）

  
  

• 产权编号：

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• 产权类型：

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• 成熟度：

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• 合作意向：

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需求文件