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技术需求及信息库

基本信息

  • R-0058 大规模集成电路老炼测试插座开发

  • 其他

  • 芯成果

  • 范老师

  • fanxiaoxiao@nicu.cn

技术简介

  • 重点描述企业需要解决的问题及主要技术指标、配套条件:

    一、需解决的主要技术问题:

    需求内容:随着国家重点装备的发展和通讯设备、计算机、手机的发展需求,对多引线、细节距的IC应用越来越多,为提高IC上机后的高可靠性,必须要有一种专用老炼测试插座作为载体,对IC进行在线老化测试筛选。 技术指标: 

    1.解决≤0.5mm节距的产品设计、模具设计与制造难题; 

    2.解决≤0.5mm解决的成型工艺问题;

    3.测试老炼条件:-55℃~175℃; 

    4.测试耐电压500V DC; 

    5.测试电流:1A~50A。



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